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FS-300显微镜

日本三丰显微镜 FS-300 378系列--冶金显微镜 显微镜FS-110是为了检测如IC芯片和摄像头零件等微型元件而设计的。此光学系统的特点是物镜的 工作距离超长,目镜视场宽以及具有独立的侧面色差校正系统。 三丰显微镜的特点: ·三丰显微镜完整的FS-110系统可由不同部件组成 以满足不同的需求。 ·三丰显微镜有无透射照明都可工作 ·三丰显微镜物镜的超长工作距离使用使得操作变得更加容易。 ·三丰显微镜选件的使用可扩大适用范围。
 

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